TEM 이미지 변화 (전자빔 손상, 차징, 촬영 조건)
같은 시료의 같은 위치를 연속으로 촬영했는데 이미지가 흐려지거나, 위치가 이동하거나, 결정 구조가 달라져 보이는 경우가 있습니다. 처음에는 초점이나 비점수차와 같은 현미경 설정 문제를 의심하기 쉽습니다. 하지만 이러한 변화는 전자빔에 의한 시료 손상, 시료 드리프트, 차징, 오염 등 여러 원인으로 발생할 수 있습니다. 투과전자현미경(TEM)은 전자빔을 이용해 시료 내부의 미세구조를 관찰하는 장비입니다. 따라서 이미지를 얻는 과정 자체가 시료에 영향을 줄 수 있습니다. 특히 배터리 소재, 유기물, 빔에 민감한 나노물질을 분석할 때는 촬영 시간이 길어지거나 조사량이 증가하면서 이미지가 달라질 수 있습니다. 이 글에서는 TEM 이미지가 시간에 따라 변하는 주요 원인을 살펴보고, 각 현상을 구분하는 방법과 시료..
2026. 10. 25.
STEM 이미징 모드 (BF, HAADF, Z-contrast, 이미지 해석)
BF, ADF, HAADF라는 세 가지 이미징 모드는 단순히 밝기를 조절하는 기능이 아니라, 서로 완전히 다른 전자 신호를 포착하는 방식입니다. 같은 시료를 두고도 어떤 모드를 쓰느냐에 따라 구조가 전혀 다르게 나타날 수 있다는 점, 제가 현미경 앞에서 가장 먼저 체감한 사실입니다.BF 이미징, 투과빔이 그리는 시료의 윤곽전자현미경을 처음 배울 때 가장 먼저 접하는 모드가 BF, 즉 명시야(Bright-Field) 이미징입니다. 여기서 BF란 전자빔이 시료를 통과한 뒤 산란되지 않고 그대로 직진한 투과빔을 검출기가 수집하여 이미지를 형성하는 방식을 의미합니다. 시료가 얇거나 전자를 거의 산란시키지 않는 영역은 투과빔이 충분히 도달해 밝게 나타나고, 두껍거나 밀도가 높은 영역은 전자가 많이 산란되어 어둡게..
2026. 10. 23.
