TEM 결함 관찰 루틴 (BF, DF, WBDF)
TEM에서 전위(dislocation), 적층결함(stacking fault), 쌍정(twin)과 같은 결함을 정확하게 관찰하고 분석하기 위해서는 이미지 모드 선택이 핵심입니다. 단순히 보이는 이미지를 찍는 것을 넘어서, 어떤 결함이 어디에, 어떤 방향으로 존재하는지를 구체적으로 파악하기 위해서는 BF(밝은 장), DF(암시야), WBDF(약한 브래그 다크필드) 등의 이미징 기법을 순차적으로 활용해야 합니다. 이 글에서는 각 모드의 원리부터 적용 조건, 세팅 루틴, 실패 사례까지, TEM 결함 관찰을 위한 실전 전략을 정리합니다.WBDF가 결함 관찰에 효과적인 이유WBDF(Weak-Beam Dark-Field)는 기존 DF보다 결함 선명도가 높고 전위 선폭이 얇아지며, 배경 대비가 줄어드는 고급 관찰 기..
2026. 1. 3.
TEM 이미징 방식 차이 (BF, DF, TEM 분석법)
투과전자현미경(TEM)은 나노 구조를 분석하는 데 매우 정밀한 도구로, 다양한 이미징 모드를 제공합니다. 그중에서도 BF(Bright-Field, 밝은 장)와 DF(Dark-Field, 암시야)는 기본이자 핵심 모드입니다. 이 두 방식은 같은 회절 정보에서 서로 다른 빔을 선택해 이미징 하기 때문에, 조건에 따라 매우 다른 정보를 보여줄 수 있습니다. 이 글에서는 BF와 DF의 원리, 이미지 콘트라스트 형성 방식, 실무 활용 사례, 그리고 초보자가 놓치기 쉬운 함정까지 상세하게 정리해 드립니다.BF와 DF의 원리 차이 이해하기BF(Bright-Field)는 TEM에서 가장 기본적인 관찰 방식으로, objective aperture를 직진빔(000) 주변에 위치시켜 거의 굴절되지 않은 전자들만 이미지에 반..
2026. 1. 1.
