전체 글26 EDS 분석 오류 방지법 (Escape peak, Sum peak, Peak overlap) 전자현미경 분석에서 EDS는 조성 확인에 매우 유용한 도구지만, 실제 분석 과정에서는 다양한 피크 관련 오류들이 존재합니다. 특히 escape peak, sum peak, 피크 겹침(overlap)과 같은 신호 해석 오류는 정확한 분석을 방해하는 주요 원인이 됩니다. 이 글에서는 실무에서 자주 발생하는 EDS 분석 오류의 원인과 대처 방법을 escape peak, sum peak, overlap 중심으로 정리합니다. SEM/TEM 공통 팁으로 구성되어 있어 장비에 관계없이 활용할 수 있습니다.Escape Peak의 정체와 해석법Escape peak는 검출기 내부의 Si 원자가 들뜨면서 생기는 ‘가짜 피크’입니다. 대부분의 EDS 검출기가 Si 기반 SDD이기 때문에, 강한 X-선이 입사할 때 검출기 내부.. 2025. 12. 28. STEM–ADF 이미지 해석법 (STEM 원리, ADF 콘트라스트, BF/HAADF 비교) 전자현미경에서 STEM 모드는 고해상도 영상뿐 아니라 조성, 구조 정보를 함께 파악할 수 있는 중요한 분석 도구입니다. 특히 ADF(Annular Dark Field) 이미지는 나노 수준의 두께, 조성, 결정 구조 차이를 시각화하는 데 널리 활용됩니다. 그러나 ADF 이미지를 정확히 해석하려면 BF/ADF/HAADF의 원리 차이와 콘트라스트 형성 원인을 이해해야 합니다. 이 글에서는 STEM의 개념부터 ADF의 검출 원리, 이미지 해석 시 실수 방지 팁까지 단계적으로 정리합니다.STEM이란? TEM과 다른 ADF 스캔 원리전통적인 TEM은 넓은 영역에 전자빔을 투과시켜 형성된 회절·간섭 이미지를 분석합니다. 반면 STEM(Scanning Transmission Electron Microscopy)은 매우.. 2025. 12. 27. 전자현미경 STEM 해석 팁 (STEM, HAADF, Z 콘트라스트) TEM을 조금 익숙하게 다루기 시작하면 “STEM 모드에서 찍은 HAADF 이미지는 뭐가 다른가요?”, “원자 번호 콘트라스트(Z-contrast)가 정말 조성 차이를 그대로 반영하나요?”와 같은 질문을 자주 접하게 됩니다. STEM(Scanning TEM)과 HAADF(High Angle Annular Dark Field) 이미지는 요즘 나노 소재 연구에서 거의 기본처럼 사용되지만, 원리와 한계를 정확히 이해하지 못하면 이미지를 과해석하 거나 중요한 정보를 놓칠 수 있습니다.이 글에서는 STEM의 기본 원리, HAADF 검출 방식, Z 콘트라스트의 의미와 한계, 실제 해석 팁까지 단계적으로 정리합니다. TEM을 어느 정도 써 본 초보·중급 연구자가 “STEM/HAADF 이미지를 더 잘 이해하고 해석하는.. 2025. 12. 27. 같은 시료인데 사람마다 이미지가 다른 이유 (관찰 조건, 조작 습관, 이미지 해석) 전자현미경 실무에서 자주 등장하는 질문 중 하나는 “왜 같은 시료를 봤는데 이미지가 이렇게 다를까?”이다. 동일한 장비와 동일한 시료를 사용했음에도 사람마다 얻는 TEM 이미지는 놀라울 정도로 달라진다. 이는 누군가의 실수가 아니라, 전자현미경 이미지가 사용자의 선택과 해석에 크게 의존하는 데이터이기 때문이다. 이 글에서는 같은 시료임에도 사람마다 이미지가 달라지는 이유를 TEM 이미지를 해석하는 관점에서 정리한다.전자현미경 이미지는 자동으로 동일해지지 않는다TEM 이미지는 버튼 하나로 항상 같은 결과가 나오는 사진이 아니다. 관찰 과정 전반에서 사용자는 끊임없이 선택을 한다. 가속전압을 어디에 둘지, 빔 전류를 얼마나 줄지, 포커스를 어디 기준으로 맞출지, 어떤 영역을 중심으로 볼지까지 모든 판단이 이.. 2025. 12. 25. 같은 시료인데 시간이 지나면 이미지가 달라지는 이유 (Beam effect, 드리프트, 시료 변화) 전자현미경으로 관찰하다 보면 같은 시료, 같은 위치, 같은 조건이라고 생각했는데도 시간이 지나면서 이미지가 달라지는 경험을 하게 된다. 처음에는 선명하던 구조가 흐려지고, 대비가 바뀌며, 심지어 패턴 자체가 달라 보이기도 한다. 이러한 변화는 장비 이상이 아니라 전자현미경 관찰 과정에서 필연적으로 발생하는 여러 물리적 현상이 누적된 결과다. 이 글에서는 시간이 지남에 따라 이미지가 변하는 대표적인 원인들을 이미지 해석 관점에서 정리한다.가장 흔한 오해: “장비가 불안정한 걸까?”이미지가 변하면 많은 사용자가 가장 먼저 장비 상태를 의심한다. 하지만 정상적으로 안정화된 TEM에서, 시간에 따른 이미지 변화의 상당 부분은 장비 문제가 아니라 시료 자체의 변화이거나 전자빔과 시료의 상호작용이 누적된 결과다.전.. 2025. 12. 25. 전자빔이 시료를 망가뜨리는 이유 (Beam damage 기초)(전자빔, 에너지 전달, 시료 손상 메커니즘) 전자현미경 관찰 중 “처음과 이미지가 달라졌다”, “시간이 지날수록 구조가 흐려진다”는 경험은 흔하다. 많은 경우 이는 장비 이상이 아니라 전자빔이 시료에 남긴 흔적이다. 이 글에서는 전자빔이 시료를 손상시키는 근본적인 이유를 정리하고, 실제 이미지가 어떻게 변하는지를 중심으로 Beam damage의 개념을 설명한다. 빔 손상을 이해하면 이미지 해석의 신뢰도와 분석 전략이 함께 달라진다.전자빔과 시료의 상호작용: 이미지를 얻는 대가전자현미경 이미지는 전자빔이 시료와 상호작용하면서 발생하는 다양한 신호를 수집해 만들어진다. 즉, 이미지를 본다는 것은 전자빔이 시료에 에너지를 전달하고 있다는 의미이기도 하다. 이 에너지가 충분히 낮다면 구조 변화 없이 정보만 얻을 수 있지만, 일정 수준을 넘어서면 시료는 더.. 2025. 12. 25. 이전 1 2 3 4 5 다음
