TEM 이미지 변화 (전자빔 손상, 차징, 촬영 조건)
같은 시료의 같은 위치를 연속으로 촬영했는데 이미지가 흐려지거나, 위치가 이동하거나, 결정 구조가 달라져 보이는 경우가 있습니다. 처음에는 초점이나 비점수차와 같은 현미경 설정 문제를 의심하기 쉽습니다. 하지만 이러한 변화는 전자빔에 의한 시료 손상, 시료 드리프트, 차징, 오염 등 여러 원인으로 발생할 수 있습니다. 투과전자현미경(TEM)은 전자빔을 이용해 시료 내부의 미세구조를 관찰하는 장비입니다. 따라서 이미지를 얻는 과정 자체가 시료에 영향을 줄 수 있습니다. 특히 배터리 소재, 유기물, 빔에 민감한 나노물질을 분석할 때는 촬영 시간이 길어지거나 조사량이 증가하면서 이미지가 달라질 수 있습니다. 이 글에서는 TEM 이미지가 시간에 따라 변하는 주요 원인을 살펴보고, 각 현상을 구분하는 방법과 시료..
2026. 10. 25.
