주사전자현미경1 SEM vs TEM (작동원리, 신호분석, 장비선택) SEM과 TEM은 둘 다 전자빔을 쓴다는 점에서 비슷해 보이지만, 실제 분석 현장에서 접해보면 얻을 수 있는 정보의 종류 자체가 완전히 다릅니다. 저도 처음엔 "배율이 더 높은 게 더 좋은 장비 아닌가"라고 단순하게 생각했습니다. 그런데 막상 두 장비를 번갈아 쓰다 보니, 같은 시료를 놓고도 어떤 질문을 던지느냐에 따라 선택해야 할 장비가 완전히 달라진다는 걸 몸으로 익히게 됐습니다.작동원리 — 전자빔이 시료를 만나는 방식의 차이SEM, 즉 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)은 가늘게 수렴된 전자빔을 시료 표면 위에서 래스터 방식으로 훑으며 영상을 만들어 냅니다. 여기서 래스터 방식이란 TV 화면처럼 가로줄을 차례차례 스캔해 전체 이미지를 구성하는 방식을 말합니다. 전자빔.. 2026. 10. 17. 이전 1 다음
